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napsonRT-70V系列 四探針法電阻率和方塊電阻手動(dòng)測(cè)量?jī)x特征是什么？

更新時(shí)間：2023-09-04      瀏覽次數(shù)：955

產(chǎn)品特點(diǎn)/功能

測(cè)量測(cè)試儀（RT-70V）和測(cè)量臺(tái)的組合

<測(cè)量測(cè)試儀：RT-70V>
使用 JOG 旋鈕輕松操作 ?厚度、溫度、PN 輸入（RT-70V 測(cè)試儀）
自檢功能、自動(dòng)測(cè)量范圍切換、4 種測(cè)量模式
具有厚度和溫度校正功能（適用于硅）

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

  • 半導(dǎo)體及太陽能電池材料（硅、多晶硅、SiC等）

  • 新材料/功能材料（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）

  • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）

  • 擴(kuò)散樣品

  • 目標(biāo)尺寸

  • *取決于組合測(cè)量臺(tái)類型。
    圓形：最大 300 毫米（12 英寸），方形：最大 730 x 920 毫米。

  • 測(cè)量范圍

  • [電阻率（電阻率）] 1μ ~ 300kΩ?cm
    [表面電阻] 5m ~ 10MΩ/sq

  • [電阻率（電阻率）] 1μ~300kΩ?cm
    [表面電阻] 5m~10MΩ/sq

  • 產(chǎn)品尺寸

  • RT-70V：W250×D330×H130mm
    約7kg

  • 測(cè)量階段

    1. RG-7C：電動(dòng)探針升降自動(dòng)平臺(tái)

  • 2. RG-5：帶手動(dòng)桿的探頭上/下平臺(tái)



  • 3. RG-7S：玻璃基板/薄膜樣品的X-Y平臺(tái)

  • 4.TS-7D：手持式探頭型 *可選配載物臺(tái)。


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