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更新時間：2023-10-27 
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用二維分布評估低相位差樣品的應變,如半導體片、彩色玻璃和彩色丙烯酸樹脂制品。
評估到大約。一分鐘50x50毫米。
型號名稱&t;
全自動應變眼
檢查方法&t;
Nir旋轉分析儀法
*全自動測量可減少測量者的工作和測量誤差。
只需放置要測量的對象,然后單擊測量按鈕.利用內置相機捕捉的信息獲得測量結果是可能的。由于不需要測量者的判斷,因此這種判斷所造成的測量錯誤被消除。
*這可以對半導體片、有色或透明產品、殘余應力和裂紋進行應變評價,而這些都是用傳統(tǒng)的偏振鏡無法測量的。
*軟件分析工具
二維分布圖、任意設置區(qū)域的直方圖、二維分布圖的三維顯示、測量結果的CSV存儲和圖像存儲。這些功能包括在軟件中。它們有助于分析評價結果。
*長壽和節(jié)能
高亮度LED被用作光源。這減少了與更換光源有關的維護時間和運行成本。
| 檢查方法 | Nir旋轉分析儀法 |
| 測量范圍(約) | 0～150nm (Retardation) |
| 測量面積 | (approx.) 50×50mm |
| 測量對象放置空間(高度) | 最大160毫米 |
| 尺寸 | W300 ? D353 ? H540 mm |
| 重量 | 22千克 |
| 其他人 | 光源:高發(fā)光體 PowerSorce：AC100～240V 50/60Hz DC input 24V 1.6A 構成部分:主機、PC、電纜 附屬物:主體罩 組織:窗口10專業(yè)(64位)日語/英語 |
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