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elysia-raytest高純度鍺 (HPGe) 阱探測器介紹?

更新時間:2024-01-30      瀏覽次數(shù):724

HPGe

由于 QC 實驗室的樣品量非常小,我們選擇了高純度鍺 (HPGe) 阱探測器,該探測器可提供高效率,因為樣品實際上被有源探測器材料包圍。


孔檢測器采用盲孔制造,在孔底部留下至少 15 mm 的有源檢測器厚度,并接近 4π 計數(shù)幾何形狀。


端蓋中的井插入件由鋁制成,側(cè)壁厚度為 0.5 毫米,底部厚度為 1 毫米。與 0.5 mm 的鋁相比,探測器元件上的離子注入觸點薄到可以忽略不計,因此這些探測器本質(zhì)上具有良好的低能量響應(yīng),允許光譜低至 20 keV。


由于鍺具有相對較低的帶隙,因此必須冷卻這些探測器以減少載流子的熱生成。

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