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產品型號：F601
更新時間：2024-10-29簡要描述：日本fujifilm 小型激光干涉儀F601 非接觸式判斷各種球形物體合格/不合格 緊湊而獨的特的對準機制使您能夠快速找到反射光，從而減少測量時間。1.φ60mm高精度平板（玻璃、金屬、陶瓷等）的平面度測量和透射波前測量。2.通過與光束壓縮器（2倍放大鏡頭）組合使用，甚至可以測量小物體（約φ5mm至φ25mm）。3.如果要測量低反射率（約0.1%）的被攝體，可修改為超低反射率測量。
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
日本fujifilm 小型激光干涉儀F601
非接觸式判斷各種球形物體合格/不合格
緊湊而獨的特的對準機制使您能夠快速找到反射光，從而減少測量時間。
1.φ60mm高精度平板（玻璃、金屬、陶瓷等）的平面度測量和透射波前測量。
2.通過與光束壓縮器（2倍放大鏡頭）組合使用，甚至可以測量小物體（約φ5mm至φ25mm）。
3.如果要測量低反射率（約0.1%）的被攝體，可修改為超低反射率測量。
主要規(guī)格
光源
氦氖激光器（1類激光產品）
波長
632.8nm
格式
斐索型干涉法
有效光通量直徑
φ60mm
測量靈敏度
λ/2（0.3μm/條）
參考面精度
λ/20
放大
×1
尺寸
約300×320×590mm
日本fujifilm 小型激光干涉儀F601
非接觸式判斷各種球形物體合格/不合格
緊湊而獨的特的對準機制使您能夠快速找到反射光，從而減少測量時間。
1.φ60mm高精度平板（玻璃、金屬、陶瓷等）的平面度測量和透射波前測量。
2.通過與光束壓縮器（2倍放大鏡頭）組合使用，甚至可以測量小物體（約φ5mm至φ25mm）。
3.如果要測量低反射率（約0.1%）的被攝體，可修改為超低反射率測量。
主要規(guī)格
光源
氦氖激光器（1類激光產品）
波長
632.8nm
格式
斐索型干涉法
有效光通量直徑
φ60mm
測量靈敏度
λ/2（0.3μm/條）
參考面精度
λ/20
放大
×1
尺寸
約300×320×590mm
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